عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
تعداد ۲ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۳۱ ثانیه یافت شد.
1. The core test wrapper handbook
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کتابخانه ها)
پدیدآورنده :
کتابخانه:
كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران
(
مازندران
)
موضوع :
based integrated circuits. ; Embedded computer systems ; Testing ; Standards. ; Systems on a chip ; Testing ; Standards. ; Integrated circuits ; Testing ; Standards. ; -IEEE standard testability method for embedded core
رده :
2. scan architecture /-IEEE standard test access port and boundary
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کتابخانه ها)
پدیدآورنده :
کتابخانه:
كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران
(
مازندران
)
موضوع :
Integrated circuits ; Testing ; Standards. ;
رده :
»
1
«
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح